X射线粉末衍射仪Bruker D8
仪器简介
布鲁克D8 X射线粉末衍射仪（Bruker D8 XRD）是一款高性能多晶材料分析仪器，采用θ-2θ几何结构设计，配备LynxEye阵列探测器和高亮度Cu靶X射线光源（λ=1.5418 Å）。其角度范围10°-140°（2θ），最小步长0.0001°，支持液氮温区至400℃变温测试。配合DIFFRAC.SUITE软件，可快速完成物相鉴定（PDF数据库匹配）、晶胞精修（TOPAS）、应力/织构分析及纳米晶粒尺寸计算（Scherrer公式），广泛应用于材料、化工、制药等领域的研究与质量控制。
仪器型号
Bruker D8 Advance
技术参数
广角扫描 2theta： 3° ～ 140°
小角扫描 2theta： 0.6° ～ 8°
小角扫描 2theta： 0.6° ～ 8°
仪器附件
原位中低温变温装置：-150℃ ～ 400℃
旋转毛细管样品台
旋转毛细管样品台
主要功能
对粉末/薄膜样品的进行广角/小角衍射测试且具有变温附件。
配置旋转毛细管样品台，可用于消除样品的择优取向。
配置旋转毛细管样品台，可用于消除样品的择优取向。
主要应用
1. 主要应用于物相鉴定的定性分析，定量分析；
2. Scherrer公式估算纳米晶的尺寸；
3. 通过衍射峰位置进行晶格常数计算；
4. 通过衍射峰位移计算材料内部的宏观应力（如金属、陶瓷的加工应力）；
5. 研究材料在变温过程中的相变行为，相变温度，热膨胀系数等。
2. Scherrer公式估算纳米晶的尺寸；
3. 通过衍射峰位置进行晶格常数计算；
4. 通过衍射峰位移计算材料内部的宏观应力（如金属、陶瓷的加工应力）；
5. 研究材料在变温过程中的相变行为，相变温度，热膨胀系数等。
联系方式
